下面小编给大家整理的光学综合孔径干涉成像技术,本文共4篇,欢迎阅读!
篇1:光学综合孔径干涉成像技术
光学综合孔径干涉成像技术
闭合相位技术、U-V覆盖技术和像重构技术是光学综合孔径干涉成像的三个关键技术.文中详细介绍了闭合相位技术的原理、U-V覆盖技术(包括即时覆盖和通过孔径旋转的非即时覆盖两种方法)和用于图像重构的'常用方法以及用于光学综合孔径像重构的混合迭代方法,最后讨论了光学综合孔径干涉成像技术的应用.
作 者:王海涛 周必方 作者单位:国家天文台,南京天文光学技术研究所,江苏,南京,210042 刊 名:光学精密工程 ISTIC EI PKU英文刊名:OPTICS AND PRECISION ENGINEERING 年,卷(期): 10(5) 分类号:O436.1 关键词:光干涉 光学综合孔径 图像重构 闭合相位 U-V覆盖篇2:光学综合孔径空间探索波前干涉理论研究
光学综合孔径空间探索波前干涉理论研究
由光学综合孔径干涉模型深入研究了光学综合孔径空间探索波前干涉理论.在观测目标相当遥远及准单色观测条件下,根据光学综合孔径光学传递函数以及傅里叶变换性质建立了一个简化的像面干涉光强分布数学模型,此数学模型的`物理含义符合光学综合孔径成像观测的实际情况;根据光学综合孔径瞳面干涉条件,在光学综合孔径像面干涉数学模型的基础上得到瞳面干涉的数学模型.最后根据光学综合孔径数学模型分别对像面干涉模型和瞳面干涉模型进行了计算机仿真.
作 者:毛谦敏 范伟军 MAO Qian-min FAN Wei-jun 作者单位:中国计量学院,计量技术工程学院,杭州,310096 刊 名:光子学报 ISTIC PKU英文刊名:ACTA PHOTONICA SINICA 年,卷(期): 36(5) 分类号:O436.1 关键词:光学综合孔径 数学模型 光强分布篇3:基于相位差法的光学综合孔径望远镜失调检测技术
基于相位差法的光学综合孔径望远镜失调检测技术
光学综合孔径望远镜常常因为子望远镜间的失调大于1λ而产生相位差,影响望远镜的'分辨能力.基于相位差法的检测技术,主要是利用在焦面和离焦位置上同时采集的一对图像,对光瞳上的相位分布进行恢复,从而得出子望远镜间的微小失调误差.在计算机模拟成像系统的基础上,我们使用有限差分法对波前相位进行了恢复.模拟研究结果表明,相位差法可以较准确恢复出波前相位,检测出失调量.
作 者:曹芳 吴桢 朱永田 CAO Fang WU Zhen ZHU Yong-tian 作者单位:曹芳,CAO Fang(中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所,江苏,南京,210042;中国科学院研究生院,北京,100049)吴桢,朱永田,WU Zhen,ZHU Yong-tian(中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所,江苏,南京,210042)
刊 名:天文研究与技术-国家天文台台刊 PKU英文刊名:ASTRONOMICAL RESEARCH & TECHONOLGY-PUBLICATIONS OF NATIONAL ASTRONOMICAL OBSERVATORIES OF CHINA 年,卷(期): 5(3) 分类号:P111.2 关键词:综合孔径望远镜 piston误差 相位差法 波前检测篇4:用干涉法实现光学合成孔径技术
用干涉法实现光学合成孔径技术
分析了传统干涉成像方式的.分辨率受限问题,提出一种干涉条纹场的合成来提高分辨率的方法,并以实验验证了上述方法的可行性.
作 者:彭仁军 吴健 杨春平陈长庚 作者单位:电子科技大学应用物理研究所,成都,610054 刊 名:光学学报 ISTIC EI PKU英文刊名:ACTA OPTICA SINICA 年,卷(期):2002 22(3) 分类号:O436.1 关键词:干涉 合成孔径 错位
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